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層狀高鎳NCM三元正極是廣泛運(yùn)用于電動車的高容量商業(yè)鋰離子電池正極材料。然而，在循環(huán)過程中的結(jié)構(gòu)劣化會造成其不可逆的容量衰減，其中高電壓下產(chǎn)生的層間滑移（planargliding）和晶內(nèi)微裂紋（microcracking）為結(jié)構(gòu)劣化的主要表現(xiàn)形式。晶格坍塌（Lattice-collapse），也是一種被人們熟知的NCM在高電壓區(qū)間發(fā)生的*有現(xiàn)象，即為在退鋰過程中，垂直c軸的（003）層狀晶面在低電壓區(qū)間緩慢膨脹，高壓區(qū)間（約4.1V以上）快速縮減從而“坍塌”。目前的研究只知...

偏光顯微鏡作為一種特殊的顯微鏡，在科研領(lǐng)域發(fā)揮著舉足輕重的作用。其重要性不僅體現(xiàn)在對樣品微觀結(jié)構(gòu)的精細(xì)觀察上，還體現(xiàn)在對樣品性質(zhì)的深入分析上。以下將詳細(xì)闡述偏光顯微鏡在科研中的重要作用與優(yōu)勢。一、重要作用揭示樣品微觀結(jié)構(gòu)：偏光顯微鏡能夠利用偏光現(xiàn)象增強(qiáng)樣品中的細(xì)節(jié)和對比度，從而清晰地揭示樣品的微觀結(jié)構(gòu)。這對于材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域的科研工作者來說至關(guān)重要，因?yàn)樗麄冃枰钊肓私鈽悠返膬?nèi)部結(jié)構(gòu)以揭示其性質(zhì)和功能。分析樣品光學(xué)性質(zhì)：通過偏光顯微鏡，科研工作者可以觀察和分析樣...

在科技日新月異的今天，高精度測量技術(shù)已成為眾多科研與工業(yè)領(lǐng)域至關(guān)重要的重要工具。其中，5軸空間3D共聚焦白光干涉輪廓儀以其杰出的性能和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域，成為了精密測量領(lǐng)域中的一顆璀璨明星。這款儀器結(jié)合了高精度旋轉(zhuǎn)模塊和先進(jìn)的3D光學(xué)輪廓儀技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了在固定位置上的全自動3D表面測量。其特殊的五軸設(shè)計，使得樣品可以在多個方向上進(jìn)行靈活旋轉(zhuǎn)和定位，從而確保了對復(fù)雜曲面和不規(guī)則形狀樣品的全表面精確測量。5軸空間3D共聚焦白光干涉輪廓儀的測量原理基于白光干涉現(xiàn)象。光源發(fā)出的光經(jīng)過擴(kuò)束準(zhǔn)...

蔡司掃描電鏡（SEM）作為現(xiàn)代材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域的重要分析工具，其樣品的制樣過程直接關(guān)系到觀察結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。以下是蔡司掃描電鏡樣品制樣的基本步驟，旨在幫助用戶正確制備樣品，從而獲得高質(zhì)量的微觀圖像。首先，根據(jù)樣品的性質(zhì)（如導(dǎo)電性、硬度等）選擇合適的制樣方法。對于導(dǎo)電性良好的樣品，如金屬，可以直接使用導(dǎo)電膠將其固定在樣品臺上。而對于導(dǎo)電性較差或非導(dǎo)電的樣品，如陶瓷、塑料等，則需要在其表面進(jìn)行鍍膜處理，以增加導(dǎo)電性，避免電荷積累影響觀察。其次，進(jìn)行樣品的清洗和干燥。...

我們致力于與您的集成需求一起不斷發(fā)展，Smart2我們很高興與您分享一些有關(guān)我們的Smart2系統(tǒng)令人興奮的消息！在本新聞中，您將了解到有關(guān)新功能的信息，有一個演示該系統(tǒng)在CMP過程的案例研究以及我們在中國的合作伙伴成功完成的一次集成的消息。打開新的探索途徑！Smart2變得更加靈活多樣，添加了三個新干涉物鏡，包括干涉2.5XTI和5XTI，以及明場100XEPI鏡頭。有了這些新鏡頭，顯微鏡的功能得到了大大增強(qiáng)。接近科技的極限使用CSI的膜厚模式，用戶可以獲取約為1.5微米厚...

隨著國家對新材料和新工藝的迫切需求，功能無機(jī)材料和化工產(chǎn)品的研發(fā)與應(yīng)用正在蓬勃發(fā)展。與此同時，如何進(jìn)行高分辨率的微觀表征和實(shí)時過程監(jiān)測，也成為相關(guān)研究的重要課題。在這一領(lǐng)域，掃描電鏡以其獨(dú)*的成像與分析功能，提供了極*價值的解決方案。澤攸科技自主研發(fā)的ZEM18掃描電鏡實(shí)現(xiàn)了納米級空間分辨率，可以直接觀測樣品的微納結(jié)構(gòu)。同時，其配備的能譜系統(tǒng)可以分析材料元素組成，研究材料結(jié)構(gòu)與性能之間的內(nèi)在關(guān)系。此外，ZEM18還可進(jìn)行各種原位測試，實(shí)現(xiàn)對化學(xué)反應(yīng)過程的實(shí)時、動態(tài)監(jiān)測。這為研...

掃描電鏡是一種廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體工藝等領(lǐng)域的*備工具，它可以通過探測樣品表面激發(fā)出來的電子信號，對物質(zhì)微觀形貌進(jìn)行表征。在半導(dǎo)體工藝中，掃描電子顯微鏡被廣泛應(yīng)用于器件結(jié)構(gòu)的實(shí)時檢測和剖面分析方面，為生產(chǎn)和研發(fā)提供了其他測試分析儀器所無法提供的直接測量信息。澤攸科技的ZEM18掃描電鏡，可以實(shí)現(xiàn)高分辨率的表面形貌觀測、元素分析、晶體結(jié)構(gòu)分析等功能，適用于半導(dǎo)體材料的表征和分析。我們的掃描電鏡可以幫助客戶實(shí)現(xiàn)器件結(jié)構(gòu)的實(shí)時檢測和剖面分析，提高半導(dǎo)體器件的制造質(zhì)量和性能穩(wěn)定...

近期，加拿大多倫多大學(xué)YuZou課題組與北京大學(xué)高鵬課題組、美國愛荷華州立大學(xué)QiAn課題組、加拿大達(dá)爾豪斯大學(xué)PenghaoXiao課題組合作，報道了利用電場控制位錯運(yùn)動，他們通過原位和原子尺度電鏡表征結(jié)合理論計算揭示了電場控制位錯運(yùn)動的機(jī)制。該研究成果以“利用電場控制位錯移動”（Harnessingdislocationmotionusinganelectricfield）為題，于6月19日發(fā)表在《自然-材料》（NatureMaterials）。位錯是晶體中常見的線缺陷，...