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產(chǎn)品中心臺式電鏡&臺階儀&原位分析澤攸TEM原位方案(樣品桿)
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澤攸STM-TEM力電一體測量系統(tǒng) 是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學測量
更新時間：2025-04-22
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澤攸STM-TEM光電一體測量系統(tǒng),是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學測量
更新時間：2025-04-22產(chǎn)品型號：瀏覽量：464
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng) ,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學測量
更新時間：2025-04-22產(chǎn)品型號：瀏覽量：470
澤攸透射電鏡原位高溫力學測量系統(tǒng),是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學測量。
更新時間：2025-04-22產(chǎn)品型號：瀏覽量：505
澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng)，原位透射電子顯微鏡實驗系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個可控的多場環(huán)境（包括力、熱、光、電等）。
更新時間：2025-04-22產(chǎn)品型號：瀏覽量：483
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統(tǒng),是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學測量
更新時間：2025-04-21產(chǎn)品型號：瀏覽量：670
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